ED2000采用全數字化電子線路設計，其緊密耦合的X射線光學系統和Pentafet探測器專利技術實現了最高的計數率、最佳的分辨率和最低的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時，檢出下限可達0.5ppm。

Pentafet專利技術克服了能量色散技術中，元素分辨能力隨計數率增高而下降的缺點，即使在較高計數情況下，仍可以得到優良的元素分辨率。ED2000數字化電路技術提高了信號處理速度，縮短了分析時間。ED2000的最大計數率高于50,000cps；在17,000cps計數率的情況下，分辨率優于140eV。